日：日期： 2021 年 2 月 8 日

自动清洗坐标测量机测针

在对使用坐标测量机（CMM）时测针尖污染对计量的影响进行详细研究后，诺丁汉大学制造计量小组的 Simon Lawes 博士证实："测针尖被微小颗粒污染会导致测量误差比预期误差大 10 倍："测尖受到微小颗粒污染会导致测量误差比预期误差大 10 倍"。检查室和[...]上的问题