LK Metrology推出了 ALTERA C HA，它是 ALTERA C 的高精度版本，具有优化的精度，可在检测公差较小的零件时降低测量不确定性。
ALTERA C HA的型号尺寸与ALTERA C相同，配有集成式或独立式控制器，以及被动式或主动式防震支架。触发式测头仅限于 PH10M 或 PH10T 测座、TP200 触发式测头和/或 SP25M 扫描测头，也提供激光扫描测头。
与标准 ALTERA C 相比，HA 版本的容积精度提高了 16%，重复性提高了 13%，触觉扫描精度提高了 50%。容积精度从 1.3+L/350 开始，重复性从 0.0013 毫米开始，扫描精度从 0.002 毫米开始。
