2019年4月10日
Altera CMM SCANtek 5是LK Metrology的一个新产品，它保留了以前版本的精度，同时以更高的速度运行。
LK Metrology公司的一台新坐标测量机（CMM）使用五轴进行复杂的测量，用于验证尺寸精度和检测部件的表面光洁度。在不离开被测部件表面的情况下，测针每秒可采集多达4000个点的坐标。
上图是LK Metrology公司最近推出的SCANtek 5。被机器测量的部件有一个复杂的表面区域，有许多沟槽和孔。
LK Metrology公司与雷尼绍合作，开发了Altera CMM SCANtek 5。他们的CMM硬件与雷尼绍的REVO-2系统（陶瓷测座和测头，下文将讨论）和多传感器技术相结合。雷尼绍既为坐标测量机开发操作技术和软件，也为医疗保健、科学设备和金属3D打印等技术开发操作技术和软件。LK Metrology公司专门从事三坐标测量机的研发，并使用雷尼绍的Modus软件来创建复杂的测量程序。
雷尼绍解释说，五轴技术的应用是为了突破三轴系统中机器和伺服系统刚度所带来的速度上限。坐标测量机横梁和主轴的陶瓷结构必须保证机械和热稳定性，以便在不同的制造环境中保持一致的性能，这意味着它将具有极高的刚性，以便在不影响精度的情况下进行测量。通过在五轴上移动这种坚硬的横梁和主轴，可以保持精度，但测量工具将具有以更高速度运行的机动性。
上图所示的五轴坐标测量机可使用1毫米测针测量小至0.098英寸的孔的真实直径。Altera CMM SCANtek 5可以检测小至5毫米的细孔。(图片由Triumph Fabrications和雷尼绍提供)。
新坐标测量机的其他特点包括不同的针尖排列和指关节，可以在一次操作中把详细的表面粗糙度分析与其他测量结合起来，还包括长度达一米的交换架，可以存储传感器、测头和测针，以便在测量序列中自动交换。在测量过程中，REVO-2测座可以快速交换为视觉测头，以提高数据采集率。
上面提到的MODUS软件可以运行在CAD中创建的程序，以及使用本地DMIS（尺寸测量接口标准）软件创建的程序。此外，软件中包含的Windows编程环境中的向导包含宏和标准扫描程序，包括螺旋、圆形和扫频，减少了机器操作员对专业编程技能的需求。
资料来源。 Engineering.com